大家好,今天小編來為大家解答以下的問題，關(guān)于ct設(shè)備測(cè)試，什么是ITC測(cè)試這個(gè)很多人還不知道，現(xiàn)在讓我們一起來看看吧！

本文目錄

1. ct8600 線材測(cè)試儀 使用說明書
2. 什么是ITC測(cè)試
3. ct設(shè)備的發(fā)展經(jīng)歷了哪幾個(gè)主要階段

一、ct8600 線材測(cè)試儀 使用說明書

大多數(shù)測(cè)試人員，如所用的接線現(xiàn)場(chǎng)認(rèn)證測(cè)試儀器，在技術(shù)上非常復(fù)雜。為了確保準(zhǔn)確，高效，測(cè)試結(jié)果認(rèn)證檢測(cè)的權(quán)威機(jī)構(gòu)，我們必須仔細(xì)選擇合適的用戶需要測(cè)試儀。現(xiàn)場(chǎng)電纜測(cè)試儀有兩個(gè)主要功能：第一，測(cè)試或驗(yàn)證電氣布線的傳輸性能;第二個(gè)故障排除布線系統(tǒng)。

，要求用戶使用他的能力，同時(shí)測(cè)試認(rèn)證和故障查找。主要功能測(cè)試是通過各種測(cè)試來確定鏈路的布線的布線是否標(biāo)準(zhǔn)，如果沒有，它示出了布線鏈路故障。故障排除和測(cè)試設(shè)備診斷功能是查找并分析其失敗的決定的能力。這些測(cè)試功能允許用戶糾正在最短的時(shí)間排除故障的接線錯(cuò)誤。解決布線故障后，最好的辦法就是再次連接認(rèn)證測(cè)試，以確保線路達(dá)到指定的標(biāo)準(zhǔn)。

不能用于化驗(yàn)檢測(cè)設(shè)備，實(shí)驗(yàn)室級(jí)的精度只能靠近現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試儀使用，所以可追溯性測(cè)試儀準(zhǔn)確度和精密度的問題是非常重要的。 TSB-67標(biāo)準(zhǔn)明確規(guī)定了這種精度現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試儀的水平，無論是測(cè)試基本鏈路或通道，如綜合布線認(rèn)證測(cè)試設(shè)備必須滿足兩個(gè)精度。制造商聲稱精度指標(biāo)由獨(dú)立的認(rèn)證機(jī)構(gòu)承認(rèn)，用戶是無法測(cè)試的透徹了解儀器的技術(shù)問題，所以UL等第三方獨(dú)立認(rèn)證機(jī)構(gòu)進(jìn)行生產(chǎn)和測(cè)試設(shè)備的質(zhì)量保證指標(biāo)，是最有說服力的方式。在選擇測(cè)試儀器，用戶可以詢問獨(dú)立認(rèn)證的廠家的問題提問。

另外請(qǐng)注意，測(cè)試設(shè)備可跟蹤問題的精度。認(rèn)證作為一種高精密的測(cè)試儀器，按照標(biāo)準(zhǔn)的要求測(cè)量，精密測(cè)試設(shè)備必須可追溯。所謂可追溯性，是有一整套的流程和方法，儀器的精度可以追溯到國家（國際）標(biāo)準(zhǔn)。精密測(cè)試設(shè)備，測(cè)試設(shè)備是確定基本授權(quán)和精度是有限的時(shí)間，在一般情況下，試驗(yàn)機(jī)的精度只能存放期為6個(gè)月至一年。所以，當(dāng)你選擇五類網(wǎng)線這樣的精密測(cè)試設(shè)備，供應(yīng)商希望獲得可追溯性的證據(jù)，并要求儀器的過程和方法和校準(zhǔn)溯源至國際標(biāo)準(zhǔn)，以確保您的測(cè)試設(shè)備采購公正性和權(quán)威性。

故障診斷領(lǐng)域的測(cè)試儀器應(yīng)該要提供一系列的故障定位布線系統(tǒng)已經(jīng)在一個(gè)單獨(dú)的電纜或錯(cuò)誤被發(fā)現(xiàn)的能力。診斷或排除故障測(cè)試，應(yīng)攜帶的距離和測(cè)試設(shè)備。

天地行下一步的測(cè)試方法結(jié)合數(shù)字脈沖與數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)。它完全可以以圖形方式顯示串?dāng)_的測(cè)試案例是鏈接。模擬頻率掃描技術(shù)來測(cè)量整體下一頁鏈接的價(jià)值，因此，測(cè)試只能報(bào)告給該鏈接的“合格”或“不合格”的結(jié)果給用戶。采用TDX技術(shù)，測(cè)試設(shè)備的一個(gè)非常重要的優(yōu)勢(shì)可能表明該鏈接位置更高的信號(hào)串?dāng)_的發(fā)生。

技術(shù)支持和服務(wù)

檢查測(cè)試設(shè)備制造商能夠提供全面，專業(yè)，快捷的技術(shù)支持和服務(wù)，而且還可以選擇測(cè)試儀的一個(gè)重要方面。它還包括是否這些本地化的支持和服務(wù)，維修和升級(jí)能夠真正本地化等。校準(zhǔn)測(cè)試儀是否將其返回到原來的工廠？對(duì)于這些問題，很少有主動(dòng)測(cè)試設(shè)備制造商到用戶的指令，但用戶必須明確的問題來。

其他測(cè)試儀是用于現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試，其設(shè)計(jì)應(yīng)根據(jù)施工現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境的前提下，所以最好有一個(gè)現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試儀良好的抗惡劣環(huán)境能力。電源管理能力也應(yīng)該關(guān)注，使用戶在測(cè)試儀突然沒電了幾個(gè)小時(shí)后不想要的，而且所有的測(cè)試結(jié)果都存儲(chǔ)都不見了。

理想測(cè)試儀

從技術(shù)角度來看，理想的電纜測(cè)試儀，應(yīng)首先滿足通道和基本鏈路的二次精度的性能要求;從更實(shí)際的角度來看，又是一個(gè)更快的測(cè)試速度。此外，測(cè)試人員可以為用戶提供幫助尋找接線故障診斷是非常重要的能力。由于測(cè)試的目的是為了獲得一個(gè)良好的鏈路，而不是區(qū)分好壞。測(cè)試設(shè)備必須能夠在鏈路故障壞件的位置，迅速通知用戶，這是一個(gè)非常有價(jià)值的功能。其他需要考慮的因素測(cè)試結(jié)果可以轉(zhuǎn)儲(chǔ)打印，使用簡單，支持其他類型的電纜測(cè)試。

廠商測(cè)試產(chǎn)品

SimpliFiber的是一個(gè)低成本的光源和功率計(jì)用于單模和多模光纖損耗的精確測(cè)量。 SimpliFiber的耐用和手掌大小的設(shè)計(jì)是簡單易用。它可以測(cè)量多種波長，測(cè)量結(jié)果可以被存儲(chǔ)，則可以自動(dòng)設(shè)定的波長范圍內(nèi)。 Scanlink使用自由軟件打印專業(yè)的測(cè)試報(bào)告。套裝包括：850/1300 nm的光源，光功率計(jì)，手提箱，電腦連接線，AA電池，清潔布，Scanlink軟件，多語言手冊(cè)。

它的主要特點(diǎn)如下：

◆手掌大小，耐用的設(shè)計(jì)。

◆為850/1300 nm的LED光源測(cè)量一次在兩個(gè)波長，是一種多波長850/1300/1310/1550 nm的功率計(jì)。

◆有1310 nm的單模激光光源做測(cè)量。

◆有1550 nm的單模激光光源做測(cè)量。

◆自動(dòng)識(shí)別波長。

◆電池壽命長。

◆有SC和ST連接器的選項(xiàng)。

◆存儲(chǔ)100個(gè)測(cè)試結(jié)果。

◆Scanlink方便地與數(shù)據(jù)傳輸?shù)膫€(gè)人電腦。

◆多語言用戶手冊(cè)。

◆Scanlink檢測(cè)報(bào)告編號(hào)，丟失，或電源。

DSP-FTA410S光纜測(cè)試適配器

DSP-FTA410S光纜測(cè)試適配器可以同時(shí)測(cè)試兩個(gè)線，大大減少了所需的光纜認(rèn)證測(cè)試的時(shí)候，你也可以同時(shí)在兩條電纜雙向測(cè)試，測(cè)試結(jié)果自動(dòng)存儲(chǔ)在同一份報(bào)告。與功能FindFiber它可以從電纜兩端的任何一端，另一端檢測(cè)到信號(hào)，節(jié)省了大量的時(shí)間來找到正確的電纜連接。此外，它可以自動(dòng)地使用兩種波長850nm和1300nm的多模光纖測(cè)試，無需調(diào)節(jié)測(cè)試波長。

DSP-FTA410S管理測(cè)試結(jié)果可以存儲(chǔ)測(cè)試適配器電纜和銅在同一個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)庫的DSP-4000，以便于網(wǎng)絡(luò)用戶整個(gè)布線系統(tǒng)的一個(gè)清晰的認(rèn)識(shí)。所有的測(cè)試結(jié)果可以直接打印，它可以被下載到PC，以便在未來的進(jìn)一步分析和統(tǒng)計(jì)。其主要特點(diǎn)如下：

◆同時(shí)測(cè)試兩個(gè)多模光纜，光纖光纜，以提高認(rèn)證測(cè)試。

◆兩個(gè)雙向光纖測(cè)試同步（測(cè)試結(jié)果自動(dòng)存儲(chǔ)在相同的報(bào)告）。

◆測(cè)試電纜的光功率損耗，長度和傳輸延遲。

◆內(nèi)置在所有大國的標(biāo)準(zhǔn)（包括千兆以太網(wǎng)標(biāo)準(zhǔn)）。

◆850nm和1300nm的自動(dòng)兩種波長的多模光纖測(cè)試。

◆查找信號(hào)的光纖職能另一端可以在電纜的兩端進(jìn)行檢測(cè)。

◆支持的DSP-4000的語音功能，可實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程調(diào)用通過光纖電纜。

◆與福祿克LS-1310/1550激光光源單模光纜可測(cè)試的功率損耗。

◆堅(jiān)固（包括嵌入式SC連接器）。

DSP-4000/4100數(shù)字式電纜分析儀

DSP-4000設(shè)計(jì)用于基于當(dāng)前的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)證和更高的標(biāo)準(zhǔn)，在未來的高速銅纜布線和網(wǎng)絡(luò)用戶和光纜是專為認(rèn)證布線系統(tǒng)，故障診斷，高速網(wǎng)絡(luò)升級(jí)，移動(dòng)等后檢查用戶電纜，布線鏈路的變化，重新認(rèn)證。

DSP-4000帶有一個(gè)可擴(kuò)展的數(shù)字化平臺(tái)，確保它符合新的標(biāo)準(zhǔn)。而且，僅僅與DSP-FTA410S測(cè)試適配器電纜連接，您就可以開始光纜認(rèn)證測(cè)試。 DSP-4000支持新的標(biāo)準(zhǔn)要求所有的測(cè)試，如：NEXT，ELFEXT，綜合近端串?dāng)_，綜合等效遠(yuǎn)端串?dāng)_，衰減，衰減串?dāng)_比，延遲，偏移和回波損耗等，測(cè)試能力高達(dá)350MHz。

DSP-4000采用數(shù)字技術(shù)遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過了模擬測(cè)試儀的性能：

◆標(biāo)準(zhǔn)為未來增加新的測(cè)試參數(shù)。

◆先進(jìn)的故障排除功能：HDTDX，HDTDR。

◆最多的測(cè)試能力，350MHz的最大帶寬。

◆提高光纜測(cè)試選項(xiàng)的性能。

◆快速的測(cè)試速度。

微掃描器PRO

微掃描器PRO的住房在結(jié)構(gòu)化布線設(shè)計(jì)，其布線測(cè)試功能來檢查布線結(jié)構(gòu)化布線，指出存在的問題與缺陷對(duì)，不只檢測(cè)短路，開路，反向，交錯(cuò)的故障，而且還可以檢測(cè)出分叉對(duì)。它的功能來測(cè)量電纜的整個(gè)長度的長度，除了核實(shí)交貨和庫存，而且該電纜的短路或開路位置時(shí)，每對(duì)的顯示長度，當(dāng)連接到輪轂的另一端如果，也顯示集線器圖標(biāo)。它使用時(shí)域反射計(jì)（TDR）方法，以確保數(shù)據(jù)長度的可靠性，并且傳播速度可以校正固定電纜（NVP）。其辦公/位置定位的房間功能，就可以知道從配線架的電纜的另一端的具體位置。它的音頻傳輸功能，可在墻壁，地板，天花板和電線電纜找到隱藏。

其主要特點(diǎn)如下：

◆測(cè)試同軸電纜和雙絞線。

◆能區(qū)分10/100集線器。

◆可在半雙工或全雙工網(wǎng)絡(luò)之間的區(qū)別。

◆允許轂燈閃閃發(fā)光。

◆檢查配線位置。

◆識(shí)別短路，開路，反向，并在錯(cuò)誤的腳踩在斷層線分叉。

◆無需外接其他配件就可以直接測(cè)試跳線。

◆測(cè)量電纜（雙絞線和同軸電纜）的長度，包括線，用于接收在輪轂的長度。

◆臺(tái)灣存托憑證采用專利技術(shù)做微量法精密長度測(cè)量。

◆產(chǎn)生的墻壁，地板，天花板和布線找到隱藏在電纜的內(nèi)部之間四個(gè)不同的音頻信號(hào)。當(dāng)

◆當(dāng)您移動(dòng)，添加，用于配對(duì)電纜改變辦事處的電纜。

◆袖珍耐用。

二、什么是ITC測(cè)試

Q:什么是ICT測(cè)試技術(shù)？ICT測(cè)試技術(shù)是什么意思？\x0d\x0a\x0d\x0aICT是 In Circuit Tester的縮寫，中文名稱為在線測(cè)試儀，是一種電路板自動(dòng)檢測(cè)儀器，又稱為靜態(tài)測(cè)試儀(因它只輸入很小的電壓或電流來測(cè)試，不會(huì)損壞電路板)。它能夠在短短幾秒內(nèi)測(cè)出電路板的好壞，并指出壞在哪一個(gè)區(qū)域及哪一個(gè)零件。將您公司產(chǎn)品在生產(chǎn)線造成的不良因素，如錫橋，錯(cuò)件、反插等問題?一一的檢查出，大大提高效率和品質(zhì)。（您再也不需長時(shí)間埋頭苦干，用示波器、萬用表等慢慢查找故障所在?） \x0d\x0a\x0d\x0a在線測(cè)試，ICT，In-Circuit Test，是通過對(duì)在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試手段。它主要檢查在線的單個(gè)元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開、短路情況，具有操作簡單、快捷迅速、故障定位準(zhǔn)確等特點(diǎn)。 \x0d\x0a\x0d\x0a飛針I(yè)CT基本只進(jìn)行靜態(tài)的測(cè)試，優(yōu)點(diǎn)是不需制作夾具，程序開發(fā)時(shí)間短。 \x0d\x0a\x0d\x0a針床式ICT可進(jìn)行模擬器件功能和數(shù)字器件邏輯功能測(cè)試，故障覆蓋率高，但對(duì)每種單板需制作專用的針床夾具，夾具制作和程序開發(fā)周期長。 \x0d\x0a\x0d\x0aICT的范圍及特點(diǎn) \x0d\x0a檢查制成板上在線元器件的電氣性能和電路網(wǎng)絡(luò)的連接情況。能夠定量地對(duì)電阻、電容、電感、晶振等器件進(jìn)行測(cè)量，對(duì)二極管、三極管、光藕、變壓器、繼電器、運(yùn)算放大器、電源模塊等進(jìn)行功能測(cè)試，對(duì)中小規(guī)模的集成電路進(jìn)行功能測(cè)試，如所有74系列、Memory類、常用驅(qū)動(dòng)類、交換類等IC。 \x0d\x0a\x0d\x0a它通過直接對(duì)在線器件電氣性能的測(cè)試來發(fā)現(xiàn)制造工藝的缺陷和元器件的不良。元件類可檢查出元件值的超差、失效或損壞，Memory類的程序錯(cuò)誤等。對(duì)工藝類可發(fā)現(xiàn)如焊錫短路，元件插錯(cuò)、插反、漏裝，管腳翹起、虛焊，PCB短路、斷線等故障。 \x0d\x0a\x0d\x0a測(cè)試的故障直接定位在具體的元件、器件管腳、網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)上，故障定位準(zhǔn)確。對(duì)故障的維修不需較多專業(yè)知識(shí)。采用程序控制的自動(dòng)化測(cè)試，操作簡單，測(cè)試快捷迅速，單板的測(cè)試時(shí)間一般在幾秒至幾十秒。 \x0d\x0a\x0d\x0aICT與人工測(cè)試比較之優(yōu)點(diǎn) \x0d\x0a1、縮短測(cè)試時(shí)間：一般組裝電路板如約300個(gè)零件ICT的大約是3-4秒鐘。 \x0d\x0a\x0d\x0a2、測(cè)試結(jié)果的一致性：ICT的質(zhì)量設(shè)定功能，能夠透過電腦控制，嚴(yán)格控制質(zhì)量。 \x0d\x0a\x0d\x0a3、容易檢修出不良的產(chǎn)品：ICT有多種測(cè)試技術(shù)，高度的可靠性，檢測(cè)不良品種、且準(zhǔn)確。 \x0d\x0a\x0d\x0a4、測(cè)試員及技術(shù)員水平需求降低：只要普通操作員，即可操作與維修。 \x0d\x0a\x0d\x0a5、減省庫存、備頻、維修庫存壓力、大大提高生產(chǎn)成品率。 \x0d\x0a\x0d\x0a6、大大提升品質(zhì)。減少產(chǎn)品的不良率，提高企業(yè)形象。\x0d\x0a\x0d\x0aICT主要測(cè)試電路板的開短路、電阻、電容、電感、二極管、三極管、電晶體、IC等無件！\x0d\x0a\x0d\x0a早期，業(yè)內(nèi)將ATE設(shè)備也歸在ICT這一類別中，但因ATE測(cè)試相對(duì)復(fù)雜，而且還包含了上電后的功能測(cè)試，象TTL、OPAMP、Frequency、TREE、BSCAN、MEMORY等，所以將ATE獨(dú)立為另一個(gè)類別了！\x0d\x0a\x0d\x0a基本上所在的大型電路生產(chǎn)商都要用到ICT測(cè)試，象ASUS、DELL、IBM、INTEL、BENQ、MSI、HP等！\x0d\x0a\x0d\x0a全球最大的ICT測(cè)試設(shè)備生產(chǎn)廠商是安捷倫，其它還有德律（TRI）、泰瑞達(dá)、星河等. \x0d\x0a\x0d\x0a在線測(cè)試通常是生產(chǎn)中第一道測(cè)試工序，能及時(shí)反應(yīng)生產(chǎn)制造狀況，利于工藝改進(jìn)和提升。ICT測(cè)試過的故障板,因故障定位準(zhǔn)，維修方便，可大幅提高生產(chǎn)效率和減少維修成本。因其測(cè)試項(xiàng)目具體，是現(xiàn)代化大生產(chǎn)品質(zhì)保證的重要測(cè)試手段之一。\x0d\x0a\x0d\x0aICT測(cè)試?yán)碚摰囊恍┖喗閈x0d\x0a1.1模擬器件測(cè)試 \x0d\x0a利用運(yùn)算放大器進(jìn)行測(cè)試。由“A”點(diǎn)“虛地”的概念有： \x0d\x0a\x0d\x0a∵Ix= Iref \x0d\x0a\x0d\x0a∴Rx= Vs/ V0*Rref \x0d\x0a\x0d\x0aVs、Rref分別為激勵(lì)信號(hào)源、儀器計(jì)算電阻。測(cè)量出V0，則Rx可求出。 \x0d\x0a\x0d\x0a若待測(cè)Rx為電容、電感，則Vs交流信號(hào)源，Rx為阻抗形式，同樣可求出C或L。 \x0d\x0a\x0d\x0a1.2隔離（Guarding） \x0d\x0a上面的測(cè)試方法是針對(duì)獨(dú)立的器件，而實(shí)際電路上器件相互連接、相互影響，使Ix_ref，測(cè)試時(shí)必須加以隔離（Guarding）。隔離是在線測(cè)試的基本技術(shù)。 \x0d\x0a\x0d\x0a在上電路中，因R1、R2的連接分流，使Ix_ref，Rx= Vs/ V0*Rref等式不成立。測(cè)試時(shí)，只要使G與F點(diǎn)同電位，R2中無電流流過，仍然有Ix=Iref，Rx的等式不變。將G點(diǎn)接地，因F點(diǎn)虛地，兩點(diǎn)電位相等，則可實(shí)現(xiàn)隔離。實(shí)際實(shí)用時(shí)，通過一個(gè)隔離運(yùn)算放大器使G與F等電位。ICT測(cè)試儀可提供很多個(gè)隔離點(diǎn)，消除外圍電路對(duì)測(cè)試的影響。 \x0d\x0a\x0d\x0a1.2 IC的測(cè)試 \x0d\x0a對(duì)數(shù)字IC，采用Vector（向量）測(cè)試。向量測(cè)試類似于真值表測(cè)量，激勵(lì)輸入向量，測(cè)量輸出向量，通過實(shí)際邏輯功能測(cè)試判斷器件的好壞。 \x0d\x0a\x0d\x0a如:與非門的測(cè)試 \x0d\x0a\x0d\x0a對(duì)模擬IC的測(cè)試，可根據(jù)IC實(shí)際功能激勵(lì)電壓、電流，測(cè)量對(duì)應(yīng)輸出，當(dāng)作功能塊測(cè)試。 \x0d\x0a\x0d\x0a2非向量測(cè)試 \x0d\x0a隨著現(xiàn)代制造技術(shù)的發(fā)展，超大規(guī)模集成電路的使用，編寫器件的向量測(cè)試程序常常花費(fèi)大量的時(shí)間，如80386的測(cè)試程序需花費(fèi)一位熟練編程人員近半年的時(shí)間。SMT器件的大量應(yīng)用，使器件引腳開路的故障現(xiàn)象變得更加突出。為此各公司非向量測(cè)試技術(shù)，Teradyne推出MultiScan；GenRad推出的Xpress非向量測(cè)試技術(shù)。 \x0d\x0a\x0d\x0a2.1 DeltaScan模擬結(jié)測(cè)試技術(shù) \x0d\x0aDeltaScan利用幾乎所有數(shù)字器件管腳和絕大多數(shù)混合信號(hào)器件引腳都有的靜電放電保護(hù)或寄生二極管，對(duì)被測(cè)器件的獨(dú)立引腳對(duì)進(jìn)行簡單的直流電流測(cè)試。當(dāng)某塊板的電源被切斷后，器件上任何兩個(gè)管腳的等效電路如下圖中所示。 \x0d\x0a\x0d\x0a1在管腳A加一對(duì)地的負(fù)電壓，電流Ia流過管腳A之正向偏壓二極管。測(cè)量流過管腳A的電流Ia。 \x0d\x0a\x0d\x0a2保持管腳A的電壓，在管腳B加一較高負(fù)電壓，電流Ib流過管腳B之正向偏壓二極管。由于從管腳A和管腳B至接地之共同基片電阻內(nèi)的電流分享，電流Ia會(huì)減少。 \x0d\x0a\x0d\x0a3再次測(cè)量流過管腳A的電流Ia。如果當(dāng)電壓被加到管腳B時(shí)Ia沒有變化（delta），則一定存在連接問題。 \x0d\x0a\x0d\x0aDeltaScan軟件綜合從該器件上許多可能的管腳對(duì)得到的測(cè)試結(jié)果，從而得出精確的故障診斷。信號(hào)管腳、電源和接地管腳、基片都參與DeltaScan測(cè)試，這就意味著除管腳脫開之外，DeltaScan也可以檢測(cè)出器件缺失、插反、焊線脫開等制造故障。 \x0d\x0a\x0d\x0aGenRad類式的測(cè)試稱Junction Xpress。其同樣利用IC內(nèi)的二極管特性，只是測(cè)試是通過測(cè)量二極管的頻譜特性（二次諧波）來實(shí)現(xiàn)的。 \x0d\x0a\x0d\x0aDeltaScan技術(shù)不需附加夾具硬件，成為首推技術(shù)。 \x0d\x0a\x0d\x0a2.2 FrameScan電容藕合測(cè)試 \x0d\x0aFrameScan利用電容藕合探測(cè)管腳的脫開。每個(gè)器件上面有一個(gè)電容性探頭，在某個(gè)管腳激勵(lì)信號(hào)，電容性探頭拾取信號(hào)。如圖所示： \x0d\x0a\x0d\x0a1夾具上的多路開關(guān)板選擇某個(gè)器件上的電容性探頭。 \x0d\x0a\x0d\x0a2測(cè)試儀內(nèi)的模擬測(cè)試板（ATB）依次向每個(gè)被測(cè)管腳發(fā)出交流信號(hào)。 \x0d\x0a\x0d\x0a3電容性探頭采集并緩沖被測(cè)管腳上的交流信號(hào)。 \x0d\x0a\x0d\x0a4 ATB測(cè)量電容性探頭拾取的交流信號(hào)。如果某個(gè)管腳與電路板的連接是正確的，就會(huì)測(cè)到信號(hào)；如果該管腳脫開，則不會(huì)有信號(hào)。 \x0d\x0a\x0d\x0aGenRad類式的技術(shù)稱Open Xpress。原理類似。 \x0d\x0a\x0d\x0a此技術(shù)夾具需要傳感器和其他硬件，測(cè)試成本稍高。 \x0d\x0a\x0d\x0a3 Boundary-Scan邊界掃描技術(shù) \x0d\x0aICT測(cè)試儀要求每一個(gè)電路節(jié)點(diǎn)至少有一個(gè)測(cè)試點(diǎn)。但隨著器件集成度增高，功能越來越強(qiáng)，封裝越來越小，SMT元件的增多，多層板的使用，PCB板元件密度的增大，要在每一個(gè)節(jié)點(diǎn)放一根探針變得很困難，為增加測(cè)試點(diǎn)，使制造費(fèi)用增高；同時(shí)為開發(fā)一個(gè)功能強(qiáng)大器件的測(cè)試庫變得困難，開發(fā)周期延長。為此，聯(lián)合測(cè)試組織（JTAG）頒布了IEEE1149.1測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。 \x0d\x0a\x0d\x0aIEEE1149.1定義了一個(gè)掃描器件的幾個(gè)重要特性。首先定義了組成測(cè)試訪問端口（TAP）的四（五〕個(gè)管腳：TDI、TDO、TCK、TMS，（TRST）。測(cè)試方式選擇（TMS）用來加載控制信息；其次定義了由TAP控制器支持的幾種不同測(cè)試模式，主要有外測(cè)試（EXTEST）、內(nèi)測(cè)試（INTEST）、運(yùn)行測(cè)試（RUNTEST）；最后提出了邊界掃描語言（Boundary Scan Description Language），BSDL語言描述掃描器件的重要信息，它定義管腳為輸入、輸出和雙向類型，定義了TAP的模式和指令集。 \x0d\x0a\x0d\x0a具有邊界掃描的器件的每個(gè)引腳都和一個(gè)串行移位寄存器（SSR）的單元相接，稱為掃描單元，掃描單元連在一起構(gòu)成一個(gè)移位寄存器鏈，用來控制和檢測(cè)器件引腳。其特定的四個(gè)管腳用來完成測(cè)試任務(wù)。 \x0d\x0a\x0d\x0a將多個(gè)掃描器件的掃描鏈通過他們的TAP連在一起就形成一個(gè)連續(xù)的邊界寄存器鏈，在鏈頭加TAP信號(hào)就可控制和檢測(cè)所有與鏈相連器件的管腳。這樣的虛擬接觸代替了針床夾具對(duì)器件每個(gè)管腳的物理接觸，虛擬訪問代替實(shí)際物理訪問，去掉大量的占用PCB板空間的測(cè)試焊盤，減少了PCB和夾具的制造費(fèi)用。 \x0d\x0a\x0d\x0a作為一種測(cè)試策略，在對(duì)PCB板進(jìn)行可測(cè)性設(shè)計(jì)時(shí)，可利用專門軟件分析電路網(wǎng)點(diǎn)和具掃描功能的器件，決定怎樣有效地放有限數(shù)量的測(cè)試點(diǎn)，而又不減低測(cè)試覆蓋率，最經(jīng)濟(jì)的減少測(cè)試點(diǎn)和測(cè)試針。 \x0d\x0a\x0d\x0a邊界掃描技術(shù)解決了無法增加測(cè)試點(diǎn)的困難，更重要的是它提供了一種簡單而且快捷地產(chǎn)生測(cè)試圖形的方法，利用軟件工具可以將BSDL文件轉(zhuǎn)換成測(cè)試圖形，如Teradyne的Victory，GenRad的Basic Scan和Scan Path Finder。解決編寫復(fù)雜測(cè)試庫的困難。 \x0d\x0a\x0d\x0a用TAP訪問口還可實(shí)現(xiàn)對(duì)如CPLD、FPGA、Flash Memroy的在線編程（In-System Program或On Board Program）。 \x0d\x0a\x0d\x0a4 Nand-Tree \x0d\x0aNand-Tree是Inter公司發(fā)明的一種可測(cè)性設(shè)計(jì)技術(shù)。在我司產(chǎn)品中，現(xiàn)只發(fā)現(xiàn)82371芯片內(nèi)此設(shè)計(jì)。描述其設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)的有一一般程*.TR2的文件，我們可將此文件轉(zhuǎn)換成測(cè)試向量。 \x0d\x0a\x0d\x0aICT測(cè)試要做到故障定位準(zhǔn)、測(cè)試穩(wěn)定，與電路和PCB設(shè)計(jì)有很大關(guān)系。原則上我們要求每一個(gè)電路網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)都有測(cè)試點(diǎn)。電路設(shè)計(jì)要做到各個(gè)器件的狀態(tài)進(jìn)行隔離后，可互不影響。對(duì)邊界掃描、Nand-Tree的設(shè)計(jì)要安裝可測(cè)性要求。\x0d\x0a\x0d\x0a基本的ICT近年來隨著克服先進(jìn)技術(shù)局限的技術(shù)而改善。例如，當(dāng)集成電路變得太大以至于不可能為相當(dāng)?shù)碾娐犯采w率提供探測(cè)目標(biāo)時(shí)，ASIC工程師開發(fā)了邊界掃描技術(shù)。邊界掃描(boundary scan)提供一個(gè)工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)方法來確認(rèn)在不允許探針的地方的元件連接。額外的電路設(shè)計(jì)到IC內(nèi)面，允許元件以簡單的方式與周圍的元件通信，以一個(gè)容易檢查的格式顯示測(cè)試結(jié)果。\x0d\x0a\x0d\x0a另一個(gè)非矢量技術(shù)(vectorlees technique)將交流(AC)信號(hào)通過針床施加到測(cè)試中的元件。一個(gè)傳感器板靠住測(cè)試中的元件表面壓住，與元件引腳框形成一個(gè)電容，將信號(hào)偶合到傳感器板。沒有偶合信號(hào)表示焊點(diǎn)開路。\x0d\x0a\x0d\x0a用于大型復(fù)雜板的測(cè)試程序人工生成很費(fèi)時(shí)費(fèi)力，但自動(dòng)測(cè)試程序產(chǎn)生(ATPG, automated test program generation)軟件的出現(xiàn)解決了這一問題，該軟件基于PCBA的CAD數(shù)據(jù)和裝配于板上的元件規(guī)格庫，自動(dòng)地設(shè)計(jì)所要求的夾具和測(cè)試程序。雖然這些技術(shù)有助于縮短簡單程序的生成時(shí)間，但高節(jié)點(diǎn)數(shù)測(cè)試程序的論證還是費(fèi)時(shí)和和具有技術(shù)挑戰(zhàn)性

三、ct設(shè)備的發(fā)展經(jīng)歷了哪幾個(gè)主要階段

根據(jù)掃描獲取數(shù)據(jù)的不同方式，CT技術(shù)已經(jīng)發(fā)展了五個(gè)階段，即五個(gè)階段幾代CT掃描。

在第一代CT中，使用單源單射線單探測(cè)器系統(tǒng)，系統(tǒng)對(duì)物體進(jìn)行平行逐步運(yùn)動(dòng)掃描獲得N個(gè)投影值，并且通過M個(gè)刻度旋轉(zhuǎn)對(duì)象。

這種掃描方法只需旋轉(zhuǎn)180°的物體。

第一代CT機(jī)結(jié)構(gòu)簡單，成本低，圖像清晰，但檢測(cè)效率低，很少用于工業(yè)CT。

第二代CT的產(chǎn)生是在第一代CT的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的。

使用單光源小角度扇形光束多探頭。

射線風(fēng)扇的光束形狀很小，探測(cè)器的數(shù)量很少，因此扇形光束不能完全包含物體的故障，并且掃描運(yùn)動(dòng)除了物體之外還需要M指數(shù)旋轉(zhuǎn)。被檢測(cè)到，射線扇形射束與探測(cè)器陣列框架相對(duì)。

測(cè)試對(duì)象還需要執(zhí)行平移運(yùn)動(dòng)，直到它完全覆蓋測(cè)試對(duì)象，并獲得所需的成像數(shù)據(jù)。

第三代CT，它是單一的射線源，具有大扇形角，寬扇形光束和被檢查部分的全包掃描圖案。

有N個(gè)探測(cè)器對(duì)應(yīng)于寬扇形光束，這確保了在一次索引中獲得N個(gè)投影計(jì)數(shù)，并且該對(duì)象僅經(jīng)歷M個(gè)索引旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)。

因此，第三代CT具有單一動(dòng)作，良好的控制和高效率。從理論上講，樣品只需一次旋轉(zhuǎn)即可測(cè)試一個(gè)部分。

第四代CT也是一種大容量全容差，只有旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)的掃描方法，但它有很多探測(cè)器形成一個(gè)固定環(huán)，只能由輻射源轉(zhuǎn)動(dòng)實(shí)現(xiàn)掃描。

它的特點(diǎn)是掃描速度快，成本高。

卓茂科技檢測(cè)設(shè)備調(diào)試車間

第五代CT是一種用于實(shí)時(shí)檢測(cè)和生產(chǎn)控制系統(tǒng)的多源多檢測(cè)器。

源和檢測(cè)器分布在120°，工件和源不相對(duì)于彼此旋轉(zhuǎn)。這種CT技術(shù)既困難又昂貴，但與其他CT效率相比，它得到了顯著改善。

上述五種CT掃描方法是第二代和第三代ICT機(jī)器中最常用的方法。生成掃描，尤其是在第三代掃描模式下。

這是因?yàn)樗挥幸粋€(gè)動(dòng)作并且易于控制。適用于檢測(cè)被檢物體直徑小的中小型產(chǎn)品，具有成本低，檢測(cè)效率高的優(yōu)點(diǎn)。

END，本文到此結(jié)束，如果可以幫助到大家，還望關(guān)注本站哦！